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美國(guó)DTI DT-330電聲電振法通用型zeta電位分析儀
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- 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
- 產(chǎn)品性能參數(shù)
- 適用范圍
- 服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)
DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、 zeta電位、流變學(xué)、固體含量、孔隙率,包括CMP漿料,納米分散體,陶瓷漿料,電池漿料,水泥家族,藥物乳劑等,并可應(yīng)用于多孔固體。
DT系列產(chǎn)品特性:
1. 能分析多種分散物的混合體
2. 無需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn)
3. 可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系
4. 可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾
5. 可精確測(cè)量無水體系
6. 樣品的高濃度可達(dá)50%(體積比),被測(cè)樣品無 需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量
7. 具有自動(dòng)電位滴定功能
DT-330性能參數(shù):
1. 采用電聲測(cè)量技術(shù)進(jìn)行zeta電位測(cè)量
2. 超聲探頭(Zeta Probe)直接測(cè)量原始樣品的zeta電位
3. 用于懸浮液和乳液表征;可以是水相,極性和非極性溶劑
4. Zeta電位測(cè)量范圍:無限制;低表面電荷可低至0.1mV
5. 不用稀釋,測(cè)量原濃樣品:0.1~50%(體積百分?jǐn)?shù))
6. min樣品量: 2ml
7. 可測(cè)量動(dòng)態(tài)遷移率和雙電層厚度(Debye Length, 德拜長(zhǎng)度)
8. 通過Access數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行數(shù)據(jù)管理
9. 可選自動(dòng)滴定系統(tǒng)(DT-310)
10. 能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料
11. 包括高頻電導(dǎo)率探頭,可以通過專利方法測(cè)量孔隙率
12. 通過電聲電振法可以測(cè)量多孔材料的表面zeta電位
13. 在用膠體振動(dòng)電流 (CVI) 方式測(cè)定原濃體系的zeta電位時(shí),輸入電導(dǎo)率值可計(jì)算雙電層厚度及粒子表面電荷密度
1. 采用電聲測(cè)量技術(shù)進(jìn)行zeta電位測(cè)量
2. 超聲探頭(Zeta Probe)直接測(cè)量原始樣品的zeta電位
3. 用于懸浮液和乳液表征;可以是水相,極性和非極性溶劑
4. Zeta電位測(cè)量范圍:無限制;低表面電荷可低至0.1mV
5. 不用稀釋,測(cè)量原濃樣品:0.1~50%(體積百分?jǐn)?shù))
6. min樣品量: 2ml
7. 可測(cè)量動(dòng)態(tài)遷移率和雙電層厚度(Debye Length, 德拜長(zhǎng)度)
8. 通過Access數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行數(shù)據(jù)管理
9. 可選自動(dòng)滴定系統(tǒng)(DT-310)
10. 能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料
11. 包括高頻電導(dǎo)率探頭,可以通過專利方法測(cè)量孔隙率
12. 通過電聲電振法可以測(cè)量多孔材料的表面zeta電位
13. 在用膠體振動(dòng)電流 (CVI) 方式測(cè)定原濃體系的zeta電位時(shí),輸入電導(dǎo)率值可計(jì)算雙電層厚度及粒子表面電荷密度
其中生物與制藥應(yīng)用包括:
1、色譜用樹脂與蛋白質(zhì)相互作用及其電性能表征
2、顆粒大小和膠束的演變
3、細(xì)胞粒徑測(cè)定
4、蛋白質(zhì)的電荷(價(jià)態(tài))測(cè)定
5、蛋白質(zhì)吸附,蛋白質(zhì)和血細(xì)胞的超聲波特性
6、沒有稀釋的藥物乳液和微乳液表征
7、溶解和結(jié)晶速度的動(dòng)力學(xué)監(jiān)測(cè)
1、色譜用樹脂與蛋白質(zhì)相互作用及其電性能表征
2、顆粒大小和膠束的演變
3、細(xì)胞粒徑測(cè)定
4、蛋白質(zhì)的電荷(價(jià)態(tài))測(cè)定
5、蛋白質(zhì)吸附,蛋白質(zhì)和血細(xì)胞的超聲波特性
6、沒有稀釋的藥物乳液和微乳液表征
7、溶解和結(jié)晶速度的動(dòng)力學(xué)監(jiān)測(cè)